Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Aoki Y., Hasegawa T., Takahashi Y., Yamada Y., Koizumi T., Miyata S., Nomoto S., Nakanishi T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, fabrication, microstructure, critical current, thickness dependence, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, buffer layers, fabrication, critical current, thickness dependence, microstructure, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.